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量子效率測(cè)試儀的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)

更新時(shí)間:2024-12-26      點(diǎn)擊次數(shù):1919
  量子效率測(cè)試儀是指太陽(yáng)能電池的電荷載流子數(shù)目與照射在太陽(yáng)能電池表面一定能量的光子數(shù)目的比率。因此,太陽(yáng)能電池的量子效率與太陽(yáng)能電池對(duì)照射在太陽(yáng)能電池表面的各個(gè)波長(zhǎng)的光的響應(yīng)有關(guān)。太陽(yáng)能電池的量子效率與光的波長(zhǎng)或者能量有關(guān)。如果對(duì)于一定的波長(zhǎng),太陽(yáng)能電池吸收了所有的光子,并且我們搜集到由此產(chǎn)生的少數(shù)載流子(例如,電子在P型材料上),那么太陽(yáng)能電池在此波長(zhǎng)的量子效率為1。
 
  對(duì)于能量低于能帶隙的光子,太陽(yáng)能電池的量子效率為0。理想中的太陽(yáng)能電池的量子效率是一個(gè)正方形,也就是說(shuō),對(duì)于測(cè)試的各個(gè)波長(zhǎng)的太陽(yáng)能電池量子效率是一個(gè)常數(shù)。但是,絕大多數(shù)太陽(yáng)能電池的量子效率會(huì)由于再結(jié)合效應(yīng)而降低,這里的電荷載流子不能流到外部電路中。影響吸收能力的同樣的太陽(yáng)能電池結(jié)構(gòu),也會(huì)影響太陽(yáng)能電池的量子效率。
 

量子效率測(cè)試儀

 



Model QTESTSTATION1000AD
光源: 150w(standard)
波長(zhǎng)范圍: 200-1100 nm or more
分辨率: 1nm,5nm,10nm,as per order
重復(fù)性: <±0.2%@main wave range
精度: <±1%@main wave range
光柵: Double
測(cè)試方法: Chopped AC mode with Lockin Amplifier
光斑尺寸: Adjustable,0.5x0.5mm Min
測(cè)量參數(shù): QE,Jsc@AM0,AM1.5G,AM2.0
計(jì)算機(jī): IPC pre-installed
軟件: Pharos-QE5.6
工作溫度: 20℃
輸入電源: 110-240VAC/5A
外形尺寸: 39x20×14"(WxDxH)
注:欲了解更多的類(lèi)型,請(qǐng)聯(lián)系銷(xiāo)售工程師
 
  量子效率測(cè)試儀用各種波長(zhǎng)不同的單色光分別照射太陽(yáng)能電池時(shí),由于光子能量不同以及太陽(yáng)能電池對(duì)光的反射、吸收、光生載流子的收集效率等因素,在輻照度相同的條件下會(huì)產(chǎn)生不同的短路電流。以所測(cè)得的短路電流密度與輻照度之比即單位輻照度所產(chǎn)生的短路電流密度與波長(zhǎng)的函數(shù)關(guān)系來(lái)測(cè)光譜響應(yīng),以光譜響應(yīng)的值進(jìn)行歸一化的光譜響應(yīng)來(lái)測(cè)相對(duì)光譜響應(yīng)。
 
  光譜響應(yīng)特性包含了太陽(yáng)能電池的許多重要信息,同時(shí)又與測(cè)試條件有密切關(guān)系。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,當(dāng)用單色光測(cè)量太陽(yáng)能電池的光譜響應(yīng)時(shí)一般都要在模擬陽(yáng)光的偏置光照射下進(jìn)行側(cè)量,利用給定的陽(yáng)光光譜輻照度和按照規(guī)定正確測(cè)得的光譜響應(yīng)數(shù)據(jù),能夠計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)條件下太陽(yáng)能電池的短路電流密度。
 

量子效率測(cè)試儀

   量子效率測(cè)試儀測(cè)試方法與步驟:

 ?。?)將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器,以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中,并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開(kāi)光源的開(kāi)關(guān),使電流保證在8.4到8.6安,打開(kāi)單色儀開(kāi)關(guān),打開(kāi)皮安表開(kāi)關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開(kāi)關(guān)。

 ?。?)通過(guò)上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門(mén),調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來(lái)控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)。

 ?。?)調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。

 ?。?)記錄皮安表的數(shù)值,查表,找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值,用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值,得出功率值。(正好皮安對(duì)皮瓦)

 ?。?)蓋住CCD相機(jī)的鏡頭,在CCD上位軟件上,連接設(shè)備,連續(xù)采圖,設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后。再單擊量子效率,完成暗圖像的采集。

 ?。?)調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處,(目前大約是回到原點(diǎn))。

 ?。?)揭開(kāi)CCD的鏡頭,讓激光光斑打到CCD上,在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后,亮圖上打上對(duì)勾。再單擊量子效率,完成亮圖像的采集。

 ?。?)記錄量子效率測(cè)試儀的量子效率值。

 

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