Model | QTESTSTATION1000AD |
光源: | 150w(standard) |
波長(zhǎng)范圍: | 200-1100 nm or more |
分辨率: | 1nm,5nm,10nm,as per order |
重復(fù)性: | <±0.2%@main wave range |
精度: | <±1%@main wave range |
光柵: | Double |
測(cè)試方法: | Chopped AC mode with Lockin Amplifier |
光斑尺寸: | Adjustable,0.5x0.5mm Min |
測(cè)量參數(shù): | QE,Jsc@AM0,AM1.5G,AM2.0 |
計(jì)算機(jī): | IPC pre-installed |
軟件: | Pharos-QE5.6 |
工作溫度: | 20℃ |
輸入電源: | 110-240VAC/5A |
外形尺寸: | 39x20×14"(WxDxH) |
注:欲了解更多的類(lèi)型,請(qǐng)聯(lián)系銷(xiāo)售工程師 |
量子效率測(cè)試儀測(cè)試方法與步驟:
?。?)將待測(cè)CCD芯片和標(biāo)準(zhǔn)探測(cè)器,以及它們各自的驅(qū)動(dòng)電路放置在暗室中,并調(diào)節(jié)測(cè)量系統(tǒng)各部分儀器的參數(shù)。打開(kāi)光源的開(kāi)關(guān),使電流保證在8.4到8.6安,打開(kāi)單色儀開(kāi)關(guān),打開(kāi)皮安表開(kāi)關(guān)和移動(dòng)位移臺(tái)的開(kāi)關(guān)。
?。?)通過(guò)上位機(jī)程序控制待測(cè)CCD芯片電子快門(mén),調(diào)整CCD芯片的積分時(shí)間來(lái)控制CCD芯片的曝光時(shí)間和曝光量。(一般調(diào)好不用管)。
?。?)調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將標(biāo)準(zhǔn)件調(diào)到和激光光斑重合處(目前大約41500)。
?。?)記錄皮安表的數(shù)值,查表,找出對(duì)應(yīng)波長(zhǎng)的數(shù)值,用皮安表的數(shù)值除以查表得出的值,得出功率值。(正好皮安對(duì)皮瓦)
?。?)蓋住CCD相機(jī)的鏡頭,在CCD上位軟件上,連接設(shè)備,連續(xù)采圖,設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后。再單擊量子效率,完成暗圖像的采集。
?。?)調(diào)節(jié)移動(dòng)位移臺(tái),將CCD工業(yè)相機(jī)調(diào)到激光光斑重合處,(目前大約是回到原點(diǎn))。
?。?)揭開(kāi)CCD的鏡頭,讓激光光斑打到CCD上,在設(shè)置參數(shù)中輸入對(duì)應(yīng)波長(zhǎng),功率值后,亮圖上打上對(duì)勾。再單擊量子效率,完成亮圖像的采集。
?。?)記錄量子效率測(cè)試儀的量子效率值。
電話(huà)
微信掃一掃